特許

J-GLOBAL ID：200903031098399400

オブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法

発明者： イージョン・リン ,  アンソニー・ヴェトロ ,  ハイファン・スン ,  スンユアン・クン
出願人/特許権者： ミツビシ・エレクトリック・インフォメイション・テクノロジー・センター・アメリカ・インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-142029
公開番号（公開出願番号）：特開2001-005981
出願日： 2000年05月15日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：

【要約】【課題】 形状の構造的情報を獲得することができ最も好ましい結果をもたらすオブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法を得る。【解決手段】 画像のうち、オブジェクトの境界の内側の部分を順序付けるステップ325と、画像の順序付けられた部分に対して中央軸を導出するステップ620と、中央軸701をセグメント化して順序付きツリーを生成するステップ640と、順序付きツリーを部分的順序付きツリーに変換することによって、前記オブジェクトの形状を表現するステップ650とを有する。

請求項（抜粋）：

画像内のオブジェクトの形状を表現する方法であって、前記画像のうち、前記オブジェクトの境界の内側の部分を順序付けるステップと、前記画像の順序付けられた部分に対して中央軸を導出するステップと、前記中央軸をセグメント化して順序付きツリーを生成するステップと、前記順序付きツリーを部分的順序付きツリーに変換することによって、前記オブジェクトの形状を表現するステップとを有することを特徴とするオブジェクト形状を表現する画像空間を順序付ける方法。

IPC (2件)：

G06T 7/60 150 ,  H04N 7/24

FI (2件)：

G06T 7/60 150 S ,  H04N 7/13 Z

引用特許：

出願人引用 (4件)

• パターン濃度検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-330713   出願人：松下電器産業株式会社
• オブジェクト表面を探索する画像空間を順序付ける方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-142028   出願人：ミツビシ・エレクトリック・インフォメイション・テクノロジー・センター・アメリカ・インコーポレイテッド
• 特公平7-069967
  
• 特許第6400846号
  

審査官引用 (4件)

• パターン濃度検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-330713   出願人：松下電器産業株式会社
• オブジェクト表面を探索する画像空間を順序付ける方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-142028   出願人：ミツビシ・エレクトリック・インフォメイション・テクノロジー・センター・アメリカ・インコーポレイテッド
• 特公平7-069967
  
• 特許第6400846号
  

引用文献：

出願人引用 (2件)

• スケルトンを用いた階層的形状記述およびニューラルネットによる階層的形状識別
• アルゴリズムの基礎, 19971015, 初版, p.20〜34

審査官引用 (2件)

• スケルトンを用いた階層的形状記述およびニューラルネットによる階層的形状識別
• アルゴリズムの基礎, 19971015, 初版, p.20〜34