特許

J-GLOBAL ID：200903031171749016

光散乱式粒子検出器

発明者： 一条 和夫
出願人/特許権者： リオン株式会社
代理人 (1件)： 小山 有 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-133432
公開番号（公開出願番号）：特開2002-031594
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2002年01月31日
要約：

【要約】【課題】 S/N比を向上させた光散乱式粒子検出器を提供する。【解決手段】 試料流体にレーザ光Laを照射して粒子検出領域Dを形成し、この粒子検出領域Dを通過する粒子による散乱光Lsを受光アレイ5で受光して粒子を検出する光散乱式粒子検出器において、受光アレイ5を複数の光電素子Pd1〜Pdnを平面状に配列して円形状に形成すると共に、これら複数の光電素子Pd1〜Pdnの出力を加算処理する加算器6を設けた。

請求項（抜粋）：

試料流体に光ビームを照射して粒子検出領域を形成し、この粒子検出領域を通過する粒子による散乱光を受光手段で受光して粒子を検出する光散乱式粒子検出器において、前記受光手段を複数の光電素子で形成すると共に、これら複数の光電素子の出力を加算処理する加算処理手段を設けたことを特徴とする光散乱式粒子検出器。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G02B 5/10

FI (2件)：

G01N 15/14 D ,  G02B 5/10 Z

Fターム (2件)：

2H042DD06 ,  2H042DE09

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特許第3151036号
  
• 微粒子検出器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-078153   出願人：日立電子エンジニアリング株式会社
• 特開平4-369464
  
• 特開昭62-119434