特許
J-GLOBAL ID：200903031201418621
光起電力モジュールの特性検査方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 敬介 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-115679
公開番号（公開出願番号）：特開2003-309277
出願日： 2002年04月18日
公開日（公表日）： 2003年10月31日
要約：
【要約】【課題】 光起電力モジュールの簡便で安価な特性検査方法及び装置を提供する。【解決手段】 光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュール101の受光面上で特性検査用の光の照射領域を前記直列接続の方向に相対的に移動させ、得られた連続する光起電圧特性から良否判定を行うようにしたことを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法及び装置。
請求項（抜粋）：
光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、特性検査用の光の照射領域を前記光起電力モジュールの少なくとも受光面上で前記直列接続の方向に相対的に移動させ、得られた連続する光起電圧特性から良否判定を行うことを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法。
Fターム (1件)：
引用特許：
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