特許
J-GLOBAL ID:200903031342240192
積層体の製造方法および回収方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三原 秀子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-290010
公開番号(公開出願番号):特開2005-064107
出願日: 2003年08月08日
公開日(公表日): 2005年03月10日
要約:
【課題】生産性高く、簡便である積層体の製造方法、および回収方法を提供する。【解決手段】被処理物層A、有機物保護層B、および耐熱性有機物層Cをこの順に積層してなる積層体のA層の露出面に処理を行ってA’層とした後、A’層、B層、およびC層とからなる積層体の厚み方向に30〜800°C温度差を発生させることによりB層とC層との界面を剥離させ、A’層とB層とからなる積層体を得ることを特徴とする、積層体の製造方法。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
被処理物層A、有機物保護層B、および耐熱性有機物層Cをこの順に積層してなる積層体のA層の露出面に処理を行ってA’層とした後、A’層、B層、およびC層とからなる積層体の厚み方向に30〜800°C温度差を発生させることによりB層とC層との界面を剥離させ、A’層とB層とからなる積層体を得ることを特徴とする、積層体の製造方法。
IPC (2件):
FI (3件):
H01L21/304 622J
, H01L21/304 622L
, B32B31/26
Fターム (19件):
4F100AA01D
, 4F100AH00B
, 4F100AH00C
, 4F100AH02C
, 4F100AH03C
, 4F100AK47C
, 4F100AK49C
, 4F100AT00A
, 4F100BA02
, 4F100BA03
, 4F100BA04
, 4F100EC18
, 4F100EJ42
, 4F100EJ64A
, 4F100GB43
, 4F100JA02C
, 4F100JJ03C
, 4F100JL02
, 4F100YY00C
引用特許:
出願人引用 (5件)
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特開2001- 77304号公報 1頁
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薄葉化半導体基板の剥離装置および剥離法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-030746
出願人:三菱瓦斯化学株式会社
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接着および剥離法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-401077
出願人:三菱瓦斯化学株式会社
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