特許
J-GLOBAL ID:200903031538381193
粒度センサー用測定セル
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
円城寺 貞夫 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-079473
公開番号(公開出願番号):特開2003-279466
出願日: 2002年03月20日
公開日(公表日): 2003年10月02日
要約:
【要約】【課題】光学窓に粉体試料等が付着することを効率よく防止することができ、低コスト化と小型化が可能な粒度センサー用測定セルを提供する。【解決手段】光源からの測定光を測定セル4内部の散乱場40に照射して試料の粒度を測定する粒度センサー用測定セルであって、光源から照射される測定光および散乱場で回折または散乱された散乱光に干渉しない位置に配置され、粉体試料を散乱場に導入する噴出ノズル41と、散乱場に測定光を入射させるとともに、散乱場からの散乱光を測定セル外に射出させる光学窓43,44と、光学窓の内面の外周部に離散的に配置され、光学窓の内面に加圧流体を噴出させる噴出口472,482と、噴出口から噴出された加圧流体を光学窓から散乱場に向けて流通させる流体通路473,483と、散乱場において測定された粉体試料を排出する排出ノズル42とを有する。
請求項(抜粋):
光源(2)からの測定光を測定セル内部の散乱場(40)に照射して試料の粒度を測定する粒度センサー用測定セルであって、前記光源(2)から照射される測定光および前記散乱場(40)で回折または散乱された散乱光に干渉しない位置に配置され、粉体試料を前記散乱場(40)に導入する噴出ノズル(41)と、前記散乱場(40)に測定光を入射させるとともに、前記散乱場(40)からの散乱光を前記測定セル(4)外に射出させる光学窓(43,44)と、前記光学窓(43,44)の内面の外周部に離散的に配置され、前記光学窓(43,44)の内面に加圧流体を噴出させる噴出口(472,482)と、前記噴出口(472,482)から噴出された加圧流体を前記光学窓(43,44)から前記散乱場(40)に向けて流通させる流体通路(473,483)と、前記散乱場(40)において測定された粉体試料を排出する排出ノズル(42)とを有する粒度センサー用測定セル。
IPC (5件):
G01N 15/14
, G01N 15/02
, G01N 21/05
, G01N 21/15
, G01N 21/47
FI (5件):
G01N 15/14 A
, G01N 15/02 A
, G01N 21/05
, G01N 21/15
, G01N 21/47 Z
Fターム (21件):
2G057AA02
, 2G057AB04
, 2G057AB07
, 2G057AC06
, 2G057BA05
, 2G057BB01
, 2G057JA03
, 2G059AA05
, 2G059BB09
, 2G059DD02
, 2G059DD12
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059KK01
, 2G059KK03
, 2G059MM01
, 2G059MM02
, 2G059MM09
, 2G059NN01
, 2G059PP04
引用特許:
出願人引用 (5件)
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粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-203412
出願人:東日コンピュータアプリケーションズ株式会社
-
光学装置および光学装置の汚染防止方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-113505
出願人:キヤノン株式会社
-
粉体の粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-344440
出願人:日機装株式会社
-
レーザ加工光学系
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-202833
出願人:株式会社東芝
-
特許第2944021号
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審査官引用 (5件)
-
粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-203412
出願人:東日コンピュータアプリケーションズ株式会社
-
光学装置および光学装置の汚染防止方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-113505
出願人:キヤノン株式会社
-
レーザ加工光学系
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-202833
出願人:株式会社東芝
-
特許第2944021号
-
粉体の粒度分布測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-344440
出願人:日機装株式会社
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