特許
J-GLOBAL ID：200903031660419606

光学式変位計

発明者：
石川 展玄

石川 展玄 について

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山下 吉弘

山下 吉弘 について

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河内 雅弘

河内 雅弘 について

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嶋田 浩二

嶋田 浩二 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (1件)： 飯塚 信市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-099929
公開番号（公開出願番号）：特開2001-280952
出願日： 2000年03月31日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：
【要約】【課題】 高反射率物体等に対応して計測光の光量が自動制御により極端に絞られた場合にも、計測位置の視認性を良好に維持できるようにした光学式変位計を提供すること。【解決手段】 周期的にシャッタを開いて計測対象物体を撮影する撮像素子を含む受光手段と、撮像素子のシャッタ開期間に同期して周期的に発光する発光素子からの光を計測対象物体上に投光して計測用光スポットを形成するする投光手段と、受光手段から得られる画像中の光スポット像の位置情報に基づいて目的とする変位を算出する演算手段と、投光手段の投光ゲイン調整要素を操作することにより、撮像素子への入射光量を適正値に制御する制御手段と、を有する光学式変位計であって、撮像素子のシャッタ閉期間に同期して、計測対象物体上の計測用光スポットと同位置に投光して視認用光スポットを形成する視認用投光手段を具備する。
請求項（抜粋）：
周期的にシャッタを開いて計測対象物体を撮影する撮像素子を含む受光手段と、撮像素子のシャッタ開期間に同期して周期的に発光する発光素子からの光を計測対象物体上に投光して計測用光スポットを形成するする投光手段と、受光手段から得られる画像中の光スポット像の位置情報に基づいて目的とする変位を算出する演算手段と、投光手段の投光ゲイン調整要素を操作することにより、撮像素子への入射光量を適正値に制御する制御手段と、を有する光学式変位計であって、撮像素子のシャッタ閉期間に同期して、計測対象物体上の計測用光スポットと同位置に投光して視認用光スポットを形成する視認用投光手段を具備する光学的変位計。
IPC (2件)：
G01C 3/06 ,  G01B 11/00
FI (3件)：
G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 H ,  G01B 11/00 B
Fターム (48件)：
2F065AA06 ,  2F065AA09 ,  2F065AA17 ,  2F065AA19 ,  2F065AA24 ,  2F065BB29 ,  2F065DD00 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG06 ,  2F065GG08 ,  2F065GG13 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ26 ,  2F065NN02 ,  2F065NN13 ,  2F065NN17 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ02 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ42 ,  2F112AA09 ,  2F112BA07 ,  2F112CA13 ,  2F112DA25 ,  2F112DA28 ,  2F112EA09 ,  2F112FA03 ,  2F112FA05 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA32 ,  2F112FA39 ,  2F112FA41
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 特開平3-190418
  • 光学式変位計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-077871   出願人：株式会社キーエンス
  • 距離測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-323131   出願人：日本電気移動通信株式会社
審査官引用 (3件)
  • 特開平3-190418
  • 光学式変位計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-077871   出願人：株式会社キーエンス
  • 距離測定装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-323131   出願人：日本電気移動通信株式会社

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