光学式変位計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：福島祥人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-077871
公開番号（公開出願番号）：特開平10-267648
出願日： 1997年03月28日
公開日（公表日）： 1998年10月09日
要約：

【要約】【課題】受光量を短時間で所定のレベルに制御することが可能でかつ安定した測定結果が得られる光学式変位計を提供することである。【解決手段】 LPF・増幅回路21、ピークホールド回路22、マイクロコンピュータ23およびA/D変換器24がデューティサイクル制御ループを構成し、受光信号LS1のピーク電圧が基準電圧と等しくなるようにレーザダイオード駆動パルス信号LDのデューティサイクルを制御する。LPF・増幅回路21、AGC増幅器26、ピークホールド回路27、減算器28、誤差積分回路29および基準電圧発生回路30がAGCループを構成し、AGC増幅器26の出力信号LS2のピーク電圧が基準電圧と等しくなるようにAGC増幅器26の利得を制御する。A/D変換器31、デジタル処理回路32およびマイクロコンピュータ23がデジタル処理部を構成し、受光量分布のピーク位置を検出する。

請求項（抜粋）：

対象物の変位を測定する光学式変位計であって、前記対象物に光を照射する発光素子と、前記対象物からの反射光を受光して受光信号として出力するリニアイメージセンサと、前記リニアイメージセンサから出力される受光信号をデジタルデータに変換する変換手段と、前記変換手段により得られたデジタルデータに基づいて前記リニアイメージセンサからの前記受光信号のレベルが所定のレベルとなるように前記レーザダイオードを制御する制御手段とを備えたことを特徴とする光学式変位計。

IPC (2件)：

G01C 3/06 , G01B 11/00

FI (2件)：

G01C 3/06 A , G01B 11/00 F

引用特許：

審査官引用 (12件)

特開平2-171608
特開平2-171608
特開昭62-064904

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