特許
J-GLOBAL ID:200903031724718211
プリント基板の検査プログラム設定方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石原 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-133916
公開番号(公開出願番号):特開平10-327000
出願日: 1997年05月23日
公開日(公表日): 1998年12月08日
要約:
【要約】【課題】 経験や勘に頼ることなく短時間で検査内容に最適の検査プログラムを設定することができるプリント基板の検査プログラム設定方法を提供する。【解決手段】 複数に用意された検査手法とその検査レベルに対応させて複数の検査プログラムを作成し、この検査プログラムにより所定数の既知のOK基板とNG基板とについて検査を実行させ、検査結果を統計処理して各検査プログラムによる計測値のうちOK基板とNG基板とが最も分離しているものを最適の検査プログラムとして採用する。この処理手順は自動的に実行させることができるので、誰にでも短時間で検査プログラムを設定することができる。
請求項(抜粋):
検査内容毎に複数に設定された検査手法に基づいて作成された複数の検査プログラムにより所定数のプリント基板について検査を実行して、検査結果の統計処理から検査内容に最適の検査プログラムを決定することを特徴とするプリント基板の検査プログラム設定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H05K 13/08 D
, H05K 3/00 V
引用特許:
審査官引用 (7件)
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特開平4-178784
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特開昭62-215854
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装着後部品検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-324222
出願人:松下電器産業株式会社
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特開平4-045600
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特開平1-236378
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特開昭61-115105
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視覚認識装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-282744
出願人:株式会社東芝
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