特許

J-GLOBAL ID：200903031726174243

粒子分析装置

発明者： 小林 弘典 ,  楠澤 英夫 ,  井邨 泰之
出願人/特許権者： シスメックス株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-245701
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074643
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：

【要約】【課題】 粒子の表面状態を効率よく分析すること。【解決手段】 粒子を含む試料液を細い試料液流にして流すフローセルと、試料液流の第1流域において各粒子が発する光を検出する検出部と、試料液流の第2流域において上記各粒子の粒子像を撮像する撮像部と、上記検出された光から第1特徴パラメータを求める第1特徴パラメータ生成部と、上記撮像された粒子像から第2特徴パラメータを求める第2特徴パラメータ生成部と、第1および第2特徴パラメータによる粒子の分布図を作成してその分布図を解析する解析部と、その解析結果を出力する出力部とを備える。

請求項（抜粋）：

粒子を含む試料液を細い試料液流にして流すフローセルと、試料液流の第1流域において各粒子が発する光を検出する光検出部と、試料液流の第2流域において上記各粒子の粒子像を撮像する撮像部と、上記検出された光から第1特徴パラメータを求める第1特徴パラメータ生成部と、上記撮像された粒子像から第2特徴パラメータを求める第2特徴パラメータ生成部と、第1および第2特徴パラメータによる粒子の分布図を作成してその分布図を解析する解析部と、その解析結果を出力する出力部とを備える粒子分析装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 15/02

FI (3件)：

G01N 15/14 D ,  G01N 15/14 B ,  G01N 15/02 C

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 粒子分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-275422   出願人：東亜医用電子株式会社