特許
J-GLOBAL ID：200903031816022230

ソフトウェア品質評価装置

発明者：
大石 晃裕

大石 晃裕 について

, 
吉田 直美

吉田 直美 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 磯村 雅俊 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-227799
公開番号（公開出願番号）：特開2000-056961
出願日： 1998年08月12日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：
【要約】【課題】 各評価指標を点数評価することにより品質向上が必要とされる順に優先度付けし、精度が高く効率的な品質評価と効率的かつ効果的な品質向上作業を図ることができるソフトウェア品質評価装置を提供すること。【解決手段】 評価項目の評価基準値と基準点数および抽出/ソート条件を入力し、それぞれ評価点数算出基準ファイル8および抽出/ソート条件管理ファイル9へ登録する。項目密度算出部3はチェックリスト件数密度、不良件数密度を算出する。評価項目別自動評価部4はチェックリスト件数密度、不良件数密度、カバレージ率、規模、難易度、不良の重要度や不良分析コード等の各々の評価項目単位に、評価点数算出基準に従い評価点数を算出する。総合評価部5は各評価項目の評価点数の合計を算出する。総合評価部5の出力を登録されていた抽出/ソート条件に従って抽出/ソートし出力する。
請求項（抜粋）：
ソフトウェアの品質を規定する品質指標ごとに基準値を設定し、該基準値に対する達成度を点数付けし、該品質指標の合計点数により品質向上が必要な度合を評価する手段を有することを特徴とするソフトウェア品質評価装置。
IPC (2件)：
G06F 9/06 540 ,  G06F 11/34
FI (2件)：
G06F 9/06 540 U ,  G06F 11/34 S
Fターム (2件)：
5B042HH20 ,  5B076EC10
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (2件)

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