特許
J-GLOBAL ID：200903031878262059
6ポート型接合を用いたベクトル・ネットワーク・アナライザ装置とその校正方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
増田 竹夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-299813
公開番号（公開出願番号）：特開2006-112893
出願日： 2004年10月14日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：
【課題】 高周波計測システムの主流となっているVNAの校正方法は、校正時に数種類の標準器の接続と取り外しが必要であり、人為的ミスが発生する原因となっており、測定精度低下の問題が発生していた。【解決手段】 本願出願人が発明した積分校正法は、従来のような複雑な校正手順を踏むことなしに、1つの移相器と、1つの複素反射係数既知の標準器のみで校正することができるので、校正精度が向上し、Sパラメータを算出する際の誤差を減少させることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
6ポート型接合、検波器、スイッチ、方向性結合器、電力分配器、発振源、移相器、無反射終端器により構成される回路において、DUTの接続を変更することなく、DUTの全Sパラメータを算出することを特徴とする、6ポート型接合を用いたベクトル・ネットワーク・アナライザ装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G028AA01
, 2G028CG15
, 2G028CG18
, 2G028DH11
, 2G028DH15
, 2G028DH17
, 2G028FK07
, 2G028GL02
, 2G028GL03
, 2G028MS02
