特許

J-GLOBAL ID：200903031911833911

A/T試験装置の故障診断方法

発明者： 山本 公樹 ,  神山 泰
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-184714
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004591
出願日： 2001年06月19日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：

【要約】【課題】 故障を早期に判定して信頼性および生産性を向上させたA/T試験装置の故障診断方法を得る。【解決手段】 A/T試験装置を用いて被試験物をテストする試験ステップ1と、テスト結果がNGであることを判定する試験結果判定ステップ2と、NGと判定された場合に設定回数分の結果データを検索するデータ検索ステップ9と、検索された結果データが同一検査項目のテスト規格値に対して同一方向で連続的にNGが発生したか否かを判定する連続NG判定ステップ10と、結果データがテスト規格値に対して同一方向で設定回数分だけ連続的にNGになったと判定された場合にA/T試験装置の故障と判定する故障判定ステップ10と、故障判定された場合にユーザに警報表示を行う警報ステップ8とを備えた。

請求項（抜粋）：

A/T試験装置を用いて被試験物をテストする試験ステップと、前記被試験物のテスト結果がNGであることを判定する試験結果判定ステップと、前記テスト結果がNGと判定された場合に、設定回数分の結果データを検索するデータ検索ステップと、前記結果データの検索結果に基づいて、前記結果データが同一検査項目のテスト規格値に対して同一方向で連続的にNGが発生したか否かを判定する連続NG判定ステップと、前記結果データが前記テスト規格値に対して同一方向で前記設定回数分だけ連続的にNGになったと判定された場合に、前記A/T試験装置の故障と判定する故障判定ステップと、前記A/T試験装置の故障が判定された場合にユーザに警報表示を行う警報ステップとを備えたA/T試験装置の故障診断方法。

IPC (4件)：

G01M 13/02 ,  G05B 23/02 ,  G05B 23/02 301 ,  G05B 23/02 302

FI (4件)：

G01M 13/02 ,  G05B 23/02 V ,  G05B 23/02 301 X ,  G05B 23/02 302 R

Fターム (10件)：

2G024AB01 ,  2G024AD16 ,  2G024BA12 ,  2G024FA02 ,  2G024FA14 ,  5H223AA10 ,  5H223AA15 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF09

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-024577
  
• 密閉型電子部品のリーク試験方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-038186   出願人：東北日本電気株式会社
• A/T試験装置の計測方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-157872   出願人：三菱電機株式会社
• 特開平2-024577