特許

J-GLOBAL ID：200903031967375100

ATMスイッチ試験装置

発明者： 藤森 也浜晃
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： ▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-132788
公開番号（公開出願番号）：特開平8-008916
出願日： 1994年06月15日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 セル交換を行うATMセルスイッチ部は、スイッチング情報に基づいてVPI/VCIの付替を行い、これを自動的に振り分けるセルフルーティングする機能を持っているため、入力線と出力線が増えるに従いスイッチ内のパスに対する試験を運用中に於いても効率的に行う必要がある。【構成】 入力ハイウェイ1より入力されるセル流の内、装置入力部2において試験制御部11から指定された試験対象となるVPまたはVCのOAMセル内の未使用空きビットに試験信号を付加し、ユーザセルと共にATMスイッチ部6によりセルフルーティングされた後、装置出力部7においてOAMセルから試験信号を検出することにより、ユーザセルやOAMセルの帯域に影響を与えることなくまた、セル揺らぎを増加させることなくATMセルスイッチ部6の試験を行うことができる。

請求項（抜粋）：

複数の入力ハイウェイを介して入力されたセル単位で交換接続を行うATMスイッチの試験装置であって、試験対象となるべく予め指定されたスイッチングルート情報を有するOAMセル(オペレーションアンドメンテナンスセル)を検出してこの検出されたOAMセルの所定ビット部分に試験信号を付加して前記ATMスイッチへ送出する試験信号付加手段と、このATMスイッチから送出されたOAMセル内の前記試験信号を抽出する試験信号抽出手段とを含むことを特徴とするATMスイッチ試験装置。

IPC (3件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00

FI (2件)：

H04L 11/20 H ,  H04L 11/12

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 導通検査方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-101928   出願人：日本電信電話株式会社
• 特開平3-270434
  
• 特開平3-071750
  
• 特開昭63-296537