特許
J-GLOBAL ID:200903031970341682

小型自動繰り返し一面せん断試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長瀬 成城
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-009637
公開番号(公開出願番号):特開2001-201446
出願日: 2000年01月19日
公開日(公表日): 2001年07月27日
要約:
【要約】【課題】上下せん断箱間に配置した小型高剛性ロードセルによって、せん断箱-供試体せん断面間あるいは試料漏れによる摩擦力を測定し、水平ロードセルにより測定された全体のせん断力から測定された摩擦力を差し引き、これにより測定誤差である摩擦力の影響を完全に取り除くことができる小型自動繰り返し一面せん断試験装置を提供する。【解決手段】水平面内に於いて互いに異なる方向に変位可能な下せん断箱9Bと、夫々のせん断箱内に配置された高剛性ロードセルと、上せん断箱と下せん断箱間に配置された供試体に対してせん断力を付与することができるせん断力付与手段6と、前記供試体に発生するせん断力を測定する水平ロードセル7と、前記供試体に対して垂直力を付与する垂直力付与手段5と、前記供試体に発生する垂直力を測定する垂直ロードセル12とを備えてなる小型自動繰り返し一面せん断試験装置。
請求項(抜粋):
水平面内に於いて互いに異なる方向に変位可能な下せん断箱と、夫々のせん断箱内に配置された高剛性ロードセルと、上せん断箱と下せん断箱間に配置された供試体に対してせん断力を付与することができるせん断力付与手段と、前記供試体に発生するせん断力を測定する水平ロードセルと、前記供試体に対して垂直力を付与する垂直力付与手段と、前記供試体に発生する垂直力を測定する垂直ロードセルとを備えてなる小型自動繰り返し一面せん断試験装置。
IPC (2件):
G01N 3/24 ,  E02D 1/00
FI (2件):
G01N 3/24 ,  E02D 1/00
Fターム (11件):
2D043AA01 ,  2D043BA10 ,  2D043BC01 ,  2G061AA11 ,  2G061AB05 ,  2G061CA06 ,  2G061CB02 ,  2G061CB03 ,  2G061EA10 ,  2G061EB05 ,  2G061EC06
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開平4-084732
  • 特開昭58-135937
  • 特開昭59-100838
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