特許
J-GLOBAL ID：200903032021103980

光計測方法および光計測装置

発明者：
月井 健

月井 健 について

, 
徐 傑

徐 傑 について


出願人/特許権者：
古河電気工業株式会社

古河電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 松下 亮
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-273880
公開番号（公開出願番号）：特開2008-089540
出願日： 2006年10月05日
公開日（公表日）： 2008年04月17日
要約：
【課題】サンプル流に対してサンプル流の流れ方向に対して直交する方向に沿って均一な光強度で照射することで、サンプル流のサンプルの光情報をバラツキが生じないように効率良く得ることができる。【解決手段】光計測装置10のキャピラリー30内を流れる液体40に分散させた被測定対象であるサンプルSに対して照射光Lを照射することで、サンプルSの光情報を測定する際に、光源11が発生する光13から照射光Lを整形して、サンプルSがキャピラリー30内を流れる方向に対して交差する方向にそって均一な光強度を有する照射光Lを、サンプルSに照射する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
流路内を流れる液体に分散させた被測定対象であるサンプルに対して照射光を照射することで、前記サンプルの光情報を測定するための光計測方法であり、 光源が発生する光から前記照射光を整形して、前記サンプルが前記流路内を流れる方向に対して交差する方向にそって均一な光強度を有する前記照射光を、前記サンプルに照射することを特徴とする光計測方法。
IPC (2件)：
G01N 15/14 ,  G01N 21/64
FI (3件)：
G01N15/14 D ,  G01N21/64 Z ,  G01N15/14 C
Fターム (8件)：
2G043AA03 ,  2G043CA04 ,  2G043CA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043JA04 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 粒子解析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-261574   出願人：キヤノン株式会社
審査官引用 (4件)
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