特許
J-GLOBAL ID:200903032244574461
物質の測定方法および物質測定用キット
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (8件):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-290208
公開番号(公開出願番号):特開2009-115665
出願日: 2007年11月07日
公開日(公表日): 2009年05月28日
要約:
【課題】より短時間で、測定対象物質を定量測定することが可能な物質の測定方法を提供する。【解決手段】 光導波路表面に測定対象物質と等価的な性質を持つ第1物質を固定化する工程;および前記光導波路表面に被測定検体溶液および被測定検体の測定対象物質と特異的に反応する第2物質が固定化された微粒子の分散液を同時にもしくは被測定検体溶液を先に滴下して微粒子の第2物質と被測定検体の測定対象物質とを特異的に反応させると共に、光導波路と未反応の微粒子との間で第1、第2の物質を特異的に反応させ、光導波路表面に固定化された微粒子による光学的変化を検出する工程;を含むことを特徴とする物質の測定方法。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
光導波路表面に測定対象物質と等価的な性質を持つ第1物質を固定化する工程;
および前記光導波路表面に被測定検体溶液および被測定検体の測定対象物質と特異的に反応する第2物質が固定化された微粒子の分散液を同時にもしくは被測定検体溶液を先に滴下して微粒子の第2物質と被測定検体の測定対象物質とを特異的に反応させると共に、光導波路と未反応の微粒子との間で第1、第2の物質を特異的に反応させ、光導波路表面に固定化された微粒子による光学的変化を検出する工程;
を含むことを特徴とする物質の測定方法。
IPC (4件):
G01N 33/543
, G01N 33/545
, G01N 33/553
, G01N 21/78
FI (4件):
G01N33/543 595
, G01N33/545 B
, G01N33/553
, G01N21/78 Z
Fターム (6件):
2G054AB04
, 2G054CA23
, 2G054EA05
, 2G054FA32
, 2G054FA33
, 2G054GA05
引用特許:
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