特許
J-GLOBAL ID：200903032292894044
未知試料検索方法、未知試料検索装置及び未知試料検索用記録媒体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 辰彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-201596
公開番号（公開出願番号）：特開2000-035422
出願日： 1998年07月16日
公開日（公表日）： 2000年02月02日
要約：
【要約】【課題】未知高分子試料を容易に同定できる検索方法、検索装置及び検索用記録媒体を提供する。【解決手段】未知高分子試料を熱分解手段2で熱分解し、分離カラム4で分離する。分離された各熱分解生成物を質量分析計5で所定時間毎にイオン化し生成した分子イオン及びフラグメントイオンの強度を検出して検出データとする。パソコン6で検出データを1組毎に加算してトータルイオン強度とし、該トータルイオン強度からクロマトグラムを作成する。該クロマトグラムの各ピークに対応するトータルイオン強度に含まれる検出データを同一質量のイオン毎に合算して未知高分子試料の合算マススペクトルを作成する。複数の既知の高分子試料について、未知高分子試料と同様にして得られた合算マススペクトルによりデータベースを構成する。該データベースから、未知高分子試料の合算マススペクトルに一致する割合の高い既知高分子試料の合算マススペクトルを検索する。
請求項（抜粋）：
未知の高分子試料を熱分解して得られる熱分解生成物の混合物を各熱分解生成物に分離し、分離された各熱分解生成物を所定時間毎にイオン化して生成した分子イオン及びフラグメントイオンの強度を検出して検出データとすると共に、該所定時間毎の検出で得られた未知の高分子試料の検出データを1組として該検出データを1組毎に加算してトータルイオン強度とし、該トータルイオン強度を検出順に配列して構成されるヒストグラムの各頂点を結ぶことによりクロマトグラムを作成し、該クロマトグラムの各ピークに対応する該トータルイオン強度に含まれる該検出データを同一質量のイオン毎に合算して該分子イオン及びフラグメントイオンの強度の合算データとし、該合算データが該分子イオン及びフラグメントイオンの質量順に配列された該未知の高分子試料の合算マススペクトルを作成し、既知の高分子試料を熱分解して得られる熱分解生成物の混合物から分離された各熱分解生成物を所定時間毎にイオン化して生成した分子イオン及びフラグメントイオンの強度を検出して検出データとすると共に、該所定時間毎の検出で得られた既知の高分子試料の検出データを1組として該検出データを1組毎に加算してトータルイオン強度とし、該トータルイオン強度を検出順に配列して構成されるヒストグラムの各頂点を結ぶことにより得られたクロマトグラムの所定の範囲の各ピークに対応する該トータルイオン強度に含まれる該検出データを同一質量のイオン毎に合算して該分子イオン及びフラグメントイオンの強度の合算データとし、該合算データが該分子イオン及びフラグメントイオンの質量順に配列された該既知の高分子試料の合算マススペクトルを作成し、複数の既知の高分子試料について集成された該合算マススペクトルにより構成されたデータベースと、該未知の高分子試料の合算マススペクトルとを比較し、該未知の高分子試料の合算マススペクトルに一致する割合の高い既知の高分子試料の合算マススペクトルを検索することを特徴とする未知試料検索方法。
IPC (3件)：
G01N 30/86
, G01N 30/06
, G01N 30/72
G01N 30/86 G
, G01N 30/06 G
, G01N 30/72 A
