検査用プローブブロックの並列搭載ユニット

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：中畑孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-340128
公開番号（公開出願番号）：特開2002-148280
出願日： 2000年11月08日
公開日（公表日）： 2002年05月22日
要約：

【要約】【課題】複数の検査用プローブブロックをスライダーを介してガイドレールに挿抜して搭載乃至交換を行い、ガイドレールの延在長において各プローブブロックを移動(スライド)して位置の調整を行い、一種類の支持ベースに異なるプローブブロックを挿抜して支持ベースを共用し、同調整が行える検査用プローブブロックの並列搭載ユニットを提供する。【解決手段】支持ベース1に多数のプローブ2を有する複数の検査用プローブブロック3を並列搭載し、各プローブブロック3のプローブ2をディスプレイパネル又は配線回路基板4の電極5に接触させて検査を行うようにしたプローブブロック3の並列搭載ユニットにおいて、上記支持ベース1にガイドレール7を設け、該ガイドレール7に上記各プローブブロック3をスライダー8を介してスライド可に滑合すると共に、所定のスライド位置において各検査用プローブブロック3を支持ベース1に固定する構成とした。

請求項（抜粋）：

支持ベースに多数のプローブを有する複数の検査用プローブブロックを並列搭載し、各検査用プローブブロックのプローブをディスプレイパネル又は配線回路基板の電極に接触させて検査を行うようにした検査用プローブブロックの並列搭載ユニットにおいて、上記支持ベースにガイドレールを設け、該ガイドレールに上記各検査用プローブブロックをスライダーを介してスライド可に滑合すると共に、所定のスライド位置において各検査用プローブブロックを支持ベースに固定する構成としたことを特徴とする検査用プローブブロックの並列搭載ユニット。

IPC (2件)：

G01R 1/073 , G02F 1/13 101

FI (2件)：

G01R 1/073 D , G02F 1/13 101

Fターム (9件)：

2G011AA02 , 2G011AB04 , 2G011AC05 , 2G011AC06 , 2G011AE01 , 2G011AF06 , 2H088FA11 , 2H088HA06 , 2H088MA20

引用特許：

出願人引用 (1件)

プローブユニット
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-355770 出願人：株式会社日本マイクロニクス

審査官引用 (1件)

プローブユニット
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-355770 出願人：株式会社日本マイクロニクス

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