特許
J-GLOBAL ID:200903032873649946
回路基板検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
酒井 伸司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-125123
公開番号(公開出願番号):特開2008-281408
出願日: 2007年05月10日
公開日(公表日): 2008年11月20日
要約:
【課題】回路基板の検査時間を短縮する。【解決手段】配線パターン11の一端部と接触する端子2a,3aと、配線パターン11の他端部と接触する端子2b,3bと、定電流Iを供給する定電流源4と、配線パターン11の両端間電圧Vを端子3a,3bを介して入力して測定する測定部5と、端子3a,3bを介しての定電流Iの供給状態における両端間電圧Vと定電流Iとに基づく二端子法による測定で端子3a,3b間の端子間抵抗を算出し、この端子間抵抗が予め設定された第1閾値以下のときに、端子2a,2bを介しての定電流Iの供給状態における定電流Iを検出し、この定電流Iが第2閾値以上のときに、この定電流Iとこの定電流Iの供給状態における両端間電圧Vとに基づく四端子法による測定で配線パターン11の抵抗を算出するCPU6とを備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
配線パターンの一端部と接触するハイ側電流供給端子およびハイ側電圧検出端子と、
前記配線パターンの他端部と接触するロー側電流供給端子およびロー側電圧検出端子と、
前記配線パターンに測定電流を供給する電流源と、
前記配線パターンの両端に発生する両端間電圧を前記ハイ側電圧検出端子および前記ロー側電圧検出端子を介して入力して測定する測定部と、
前記ハイ側電圧検出端子および前記ロー側電圧検出端子を介して前記測定電流が前記配線パターンに供給されている状態において前記測定部によって測定された前記両端間電圧と当該測定電流とに基づく二端子法による測定で当該ハイ側電圧検出端子および当該ロー側電圧検出端子間の端子間抵抗を算出し、当該算出した端子間抵抗が予め設定された第1閾値以下のときに、前記ハイ側電流供給端子および前記ロー側電流供給端子を介して前記測定電流が当該配線パターンに供給されている状態における当該測定電流を検出し、当該検出した測定電流が予め設定された第2閾値以上のときに、当該検出した測定電流、および当該測定電流の供給状態における前記両端間電圧に基づく四端子法による測定で当該配線パターンの抵抗を算出する処理部とを備えている回路基板検査装置。
IPC (3件):
G01R 27/02
, G01R 31/02
, H05K 3/00
FI (3件):
G01R27/02 R
, G01R31/02
, H05K3/00 T
Fターム (12件):
2G014AA13
, 2G014AB59
, 2G014AC10
, 2G028AA03
, 2G028CG02
, 2G028DH03
, 2G028DH13
, 2G028FK01
, 2G028HN07
, 2G028HN11
, 2G028HN13
, 2G028MS02
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-285329
出願人:横河電機株式会社
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