特許
J-GLOBAL ID：200903032908266875

発光素子の外観検査方法およびその装置

発明者：
安彦 好雄

安彦 好雄 について


出願人/特許権者：
ローム株式会社

ローム株式会社 について


代理人 (1件)： 河村 洌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-325530
公開番号（公開出願番号）：特開平9-167863
出願日： 1995年12月14日
公開日（公表日）： 1997年06月24日
要約：
【要約】【課題】 発光素子のレンズ面の異物や傷などの異常を自動化による画像処理により精度高く検査することができる発光素子の外観検査方法およびその装置を提供する。【解決手段】 (a)LED1の輝度を輝度測定器6により測定し、(b)該LEDの輝度に応じてLEDに印加する電力をコントローラ7により調整することにより該LEDの輝度を一定にし、(c)該LEDの発光面側からカメラ3により画像データを読み取り、(d)該画像データを画像処理装置4により処理することにより前記LEDの発光面の異常の有無を検査することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
(a)発光素子の輝度を測定し、(b)該発光素子の輝度に応じて印加する電力を調整することにより該発光素子の輝度を一定にし、(c)該発光素子の発光面側からカメラにより画像データを読み取り、(d)該画像データを画像処理することにより前記発光素子の発光面の異常の有無を検査することを特徴とする発光素子の外観検査方法。
IPC (3件)：
H01L 33/00 ,  G01J 1/00 ,  H01L 21/66
FI (4件)：
H01L 33/00 K ,  G01J 1/00 F ,  H01L 21/66 X ,  H01L 21/66 J
引用特許：
審査官引用 (8件)
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