特許
J-GLOBAL ID:200903032959915690

セラミックス被覆層の分離方法及び分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 社本 一夫 ,  小野 新次郎 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  岡本 芳明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2008-092116
公開番号(公開出願番号):特開2009-244153
出願日: 2008年03月31日
公開日(公表日): 2009年10月22日
要約:
【課題】酸化雰囲気に活性なセラミックス被覆層についても単独で分離し、定比性を求めることができる方法を提供する。【解決手段】少なくとも核、セラミックス被覆層及び除去層を含むセラミックス被覆粒子から前記核を除去する除去工程(S1)、前記核を除去した前記セラミックス被覆層及び前記除去層を研磨材より研磨する研磨工程(S2)、及び、前記セラミックス被覆層と前記除去層及び前記研磨材とを溶液中で分離する重液分離工程(S3)を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
少なくとも核、セラミックス被覆層及び除去層を含むセラミックス被覆粒子から前記核を除去する除去工程、前記核を除去した前記セラミックス被覆層及び前記除去層を研磨材より研磨する研磨工程、及び、前記セラミックス被覆層と前記除去層及び前記研磨材とを溶液中で分離する重液分離工程を備えていることを特徴とするセラミックス被覆層の分離方法。
IPC (4件):
G01N 1/28 ,  B03B 5/30 ,  G21C 3/22 ,  G21C 17/06
FI (4件):
G01N1/28 T ,  B03B5/30 ,  G21C3/22 A ,  G21C17/06 R
Fターム (18件):
2G052AA14 ,  2G052AB01 ,  2G052AD35 ,  2G052AD42 ,  2G052AD46 ,  2G052AD55 ,  2G052EB11 ,  2G052FD08 ,  2G052FD09 ,  2G052FD16 ,  2G052GA15 ,  2G075AA11 ,  2G075CA38 ,  2G075DA07 ,  2G075FC12 ,  2G075FC19 ,  4D071AA43 ,  4D071DA20
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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