特許

J-GLOBAL ID：200903032972706579

減衰全反射検出

発明者： スティーブンソン ウィリアム エー ,  デュリー マーク エー ,  グラツコウスキ ポール ジェイ ,  ボルダック ロイ エー ,  ツモラ ハガイ
出願人/特許権者： フォスター ミラー インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-511753
公開番号（公開出願番号）：特表平10-506712
出願日： 1995年08月25日
公開日（公表日）： 1998年06月30日
要約：

【要約】分光モニタリングのための光伝搬光学ファイバ(10)は、伝搬部(16,18)とセンサ部(20)を含む。伝搬部(16,18)は、連続コア部(12)とコア部(12)上の連続クラッド(14)を有する。センサ部(20)では、ファイバの一方側からクラッド(14)が除去され、同一側でコア部(12)が露出する。センサのコア部(12)の反対側の連続クラッド(14)はそのまま残されている。

請求項（抜粋）：

分光モニタリングのための光伝搬ファイバセンサ装置であって、 伝搬部(16,18)とセンサ部(20)を有する光ファイバ(10)を含み、 前記伝搬およびセンサ部(16,18,20)は、連続コア部(12)と該連続コア部(12)上の連続クラッド(14)を前記伝搬およびセンサ部(16,18,20)にかけて有し、 前記センサ部(20)の前記クラッド(14)は、前記センサ部(20)における非クラッドなコア表面部(24)が分光モニタされるべき材料に対して露出されるように非対称に構成されていることを特徴とする光伝搬ファイバセンサ装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G02B 6/02

FI (2件)：

G01N 21/27 C ,  G02B 6/02 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭54-141691
  
• 特開昭61-178622
  
• 全反射吸収スペクトル測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-157751   出願人：株式会社島津製作所