スジキズ検査方法及びその装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三好秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-170619
公開番号（公開出願番号）：特開平10-074262
出願日： 1997年06月26日
公開日（公表日）： 1998年03月17日
要約：

【要約】【課題】低コントラストで微細なスジキズであっても容易に検出できるスジキズ検査方法及びその装置を得る。【解決手段】欠陥データの幅を拡大するミクロフィルタ部25とある程度の幅がある欠陥データをムラとして検出するムラフィルタ部27とを直列接続する。そして、ミクロフィルタ部25が画像入力部22からのラインセンサカメラ3が撮像した画像データを取り込むことによって、低コントラストな微細なスジキズのデータ幅を拡大して直接、ムラフィルタ部26に出力する。

請求項（抜粋）：

シート状の被検査物を搬送させながら前記被検査物を撮像し、この撮像信号を変換して得られた画素毎の画像データを利用して得られた欠陥データから、前記被検査物上に形成された直線状のスジキズの有無を検査する検査方法において、前記画像データの各画素間の濃度情報の変化量を強調する第1の工程と、前記第1の工程により強調された複数のデータを加算する第2の工程と、前記第2の工程により加算されたデータ間の変化量を求める第3の工程と、前記第3の工程で求められた変化量から所定閾値と比較してスジキズを検出する第4の工程からなることを特徴とするスジキズ検査方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 , G01N 21/88 , G01N 21/89

FI (4件)：

G06F 15/62 400 , G01N 21/88 J , G01N 21/89 A , G01N 21/89 B

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平4-198744
欠陥検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-016803 出願人：東芝エンジニアリング株式会社
斑検出方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-109280 出願人：東芝エンジニアリング株式会社

前のページに戻る