特許

J-GLOBAL ID：200903033305148920

材料中の最大欠陥又は最大介在物予測方法と装置

発明者： 村上 敬宜 ,  ステファノ ベレッタ ,  小林 正明 ,  尾花 美佐 ,  水上 貴義
出願人/特許権者： 株式会社ニレコ
代理人 (1件)： 堀田 実 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-036243
公開番号（公開出願番号）：特開平11-230961
出願日： 1998年02月18日
公開日（公表日）： 1999年08月27日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 分布関数のパラメータλ,δを推定する方法及び最大欠陥寸法を推定するのに必要な最小サンプル数を得る方法を提供する。【解決手段】 n個のサンプルから最大欠陥又は最大介在物を極値統計法を用いて算出するに際し、再帰期間Tの関数で表した欠陥又は介在物の寸法x(T)をパラメータ(λ,δ)を含む(1)式x(T)=λ-δ・ln{-ln(1-1/T)}...(1)で表し、このパラメータをn個のサンプルより最大尤度法を用いて決定し、所定の再帰期間Tのx(T)を算出する最大欠陥寸法算出手段と、n個のサンプルより材料の疲労破壊の要因となる欠陥又は介在物の寸法の標準偏差を求める標準偏差算出手段と、欠陥又は介在物の寸法がx(T)の所定%に等しいとして、最大欠陥又は最大介在物を算出するに必要なサンプル数nを算出する最小サンプル数算出手段とを備える。

請求項（抜粋）：

n個のサンプルから材料の疲労破壊の要因となる最大欠陥又は最大介在物を極値統計法を用いて算出するに際し、再帰期間Tの関数で表した欠陥又は介在物の寸法x(T)をパラメータ(λ,δ)を含む(1)式x(T)=λ-δ・ln{-ln(1-1/T)}...(1)で表し、このパラメータをn個のサンプルより最大尤度法を用いて決定するようにしたことを特徴とする材料中の最大欠陥又は最大介在物予測方法。

IPC (2件)：

G01N 33/20 ,  G06F 17/18

FI (2件)：

G01N 33/20 N ,  G06F 15/36 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 優れた表面性状をもつステンレス鋼帯の製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-032869   出願人：日新製鋼株式会社