特許
J-GLOBAL ID：200903033355748236
多層PCB(プリント回路基板)製造における寸法的な安定性及び位置決め精度を監視し、向上させるシステム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石川 泰男
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-541578
公開番号（公開出願番号）：特表2004-513459
出願日： 2001年10月25日
公開日（公表日）： 2004年04月30日
要約：
【解決手段】標的は、PCBのレイアウト全体にわたって挿入される。製造後の標的の測定値は、非線形回帰分析が最適なモデルを計算できるように製造前の位置と比較される。このモデルは、PCB内、又はPCB上の特徴の配置がレイアウト上の特徴の位置を与える製品に用いられる。非線形回帰分析から、一組のX及びY多項式の結果が得られる。これらの多項式は、PCBの製造における特徴の位置決め不良を最小にするために、レイアウト上の特徴位置を追加して、線形補正を可能にする。製造された製品の特徴の位置についてのモデルは、線形補正が特徴の製造前位置を形成する前後に作られる。そのため、特徴位置補正の効果を評価することができる。ワイアフレームダイアグラム及びカラーコード化されたダイアグラムを使用している図形的表示は、設計に関連する許容範囲の内外にあるために、予測されるパネルの、それらの領域を識別するのを助ける。さらに、本発明は異なる材料の効果をテストするために適用することができる。このように、特定のPCBのための最適な材料は、位置決め条件外になることを最小にすることに関し、確認することができる。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
少なくとも一の基材パネル上に位置する特徴のために角を有するレイアウトを創出し、
前記レイアウト上の所望の位置に多数の標的を配置し、
前記製造前における各標的の名目位置を記録し、
少なくとも一の基材パネルから少なくとも一のPCBを製造し、
前記製造後の各標的の実位置を測定し、
各標的の前記実位置を記録し、
各標的の前記名目位置から各標的の前記実位置までの移動を計算し、
製造における多数の標的の前記移動をモデル化し、
製造における移動を補正するために前記モデルを製造前の特徴の位置に追加すること、
からなるプリント回路基板(PCB)パネルにおける特徴の正確な配置及び位置決めのための方法。
IPC (3件)：
G06F17/50
, H05K3/00
, H05K3/46
G06F17/50 658A
, H05K3/00 D
, H05K3/46 Z
5B046AA08
, 5B046BA04
, 5E346EE15
, 5E346GG12
, 5E346HH11
