特許

J-GLOBAL ID：200903033417571010

エレクトロスプレーを使用する高電界非対称イオン移動度分光分析方法および装置

発明者： ミラー・ラナン・エー ,  ナザロブ・アーキンジョン・ジー ,  アイスマン・ゲリー・エー ,  クリロフ・イブゲニー
出願人/特許権者： ザ・チャールズ・スターク・ドレイパー・ラボラトリー・インコーポレイテッド
代理人 (3件)： 杉本 修司 ,  野田 雅士 ,  堤 健郎
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-581074
公開番号（公開出願番号）：特表2004-529467
出願日： 2002年04月17日
公開日（公表日）： 2004年09月24日
要約：

エレクトロスプレーを使用し、高電界非対称イオン移動度分光分析により化合物を分析する方法および装置。【選択図】図3A

請求項（抜粋）：

液体試料からイオンを送り出すためのヘッドを含む、試料調製および導入セクションと、 イオン・フィルタ・セクションと、 出力部分と、 電子回路部分とを備え、 前記イオン・フィルタ・セクションが、流路を形成する絶縁表面と、前記流路を挟んで対向するイオン・フィルタ電極とをフィルタとして有し、前記液体試料から送り出されたイオンが前記流路に沿って前記イオン・フィルタ電極間を流れ、 前記電子回路部分が、前記イオン・フィルタ電極に制御信号を印加するように構成され、前記イオン・フィルタ電極に非対称周期信号を印加することにより、交番する高電界および低電界状態を生成してその交番する電界状態に応じて前記流路内のイオンの流れを濾過し、 前記フィルタの電界が補償されることにより、所望のイオン種が前記フィルタを通過して前記流路に沿って前記出力部分まで流れる電界非対称イオン移動度分光分析装置。

IPC (5件)：

H01J49/40 ,  H01J49/04 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

FI (5件)：

H01J49/40 ,  H01J49/04 ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H01J49/26

Fターム (15件)：

5C038EE01 ,  5C038EE02 ,  5C038EF01 ,  5C038EF04 ,  5C038EF26 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038GG08 ,  5C038GH08 ,  5C038GH11 ,  5C038GH13 ,  5C038GH15 ,  5C038HH02 ,  5C038HH05 ,  5C038HH16

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭54-139592
  
• 質量分析装置用のイオン源およびイオン源の洗浄方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平11-511844   出願人：マスラボリミテッド