特許
J-GLOBAL ID：200903033460588333

異物検査装置

発明者：
渡辺 直人

渡辺 直人 について

, 
斎藤 保雄

斎藤 保雄 について


出願人/特許権者：
ジェイティエンジニアリング株式会社

ジェイティエンジニアリング株式会社 について


代理人 (2件)： 長門 侃二 ,  山中 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-143667
公開番号（公開出願番号）：特開2005-326220
出願日： 2004年05月13日
公開日（公表日）： 2005年11月24日
要約：
【課題】 簡易な構成で安価に実現することができ、しかもメンテナンスが容易な異物検査装置を提供する。【解決手段】 特定波長を含む近赤外線光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する赤外線光源(直管型赤外線ランプ)と、前記コンベア上の前記近赤外線光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構(ポリゴンミラー)を備えて前記近赤外線光の照射領域を局部的に視野する光学系(対物レンズ系)と、この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および/または該原料中に混入している異物による反射光の特定波長の強度を検出する光検出素子とを備え、検査対象物からの反射光を光検出素子に導く為の光学系と、検査対象物に光を照射する照射系とを分離する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
コンベア上に載置されて搬送される原料中に混入している異物を光学的に検出する異物検査装置であって、 特定波長を含む近赤外線光を前記コンベアの幅方向全域に亘って一様に照射する赤外線光源と、 前記コンベア上の前記近赤外線光の照射領域を該コンベアの幅方向に光学的に走査する偏向機構を備えて前記近赤外線光の照射領域を局部的に視野する光学系と、 この光学系を介して前記コンベア上に載置された原料および/または該原料中に混入している異物による反射光の特定波長の強度を検出する光検出素子と を具備したことを特徴とする異物検査装置。
IPC (1件)：
G01N21/85
FI (1件)：
G01N21/85 A
Fターム (9件)：
2G051AB02 ,  2G051BA06 ,  2G051BB07 ,  2G051CB01 ,  2G051CC12 ,  2G051CC13 ,  2G051CD04 ,  2G051DA06 ,  2G051DA17
引用特許：
出願人引用 (2件)

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