特許

J-GLOBAL ID：200903033643336406

製造履歴監視システム及び製造履歴監視方法

発明者： 竹内 正泰
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (2件)： 角田 芳末 ,  磯山 弘信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-144237
公開番号（公開出願番号）：特開2006-323505
出願日： 2005年05月17日
公開日（公表日）： 2006年11月30日
要約：

【課題】 製品及び製品に組みつけられた部品と、製品の品質情報を一元的に管理する。【解決手段】 製品及び製品に組付けられた部品の組立情報を収集する組立情報収集部3Aaと、製品及び製品に組付けられた部品の品質測定を行い品質情報を得る品質情報収集部3Abと、組立情報収集部3Aa及び品質情報収集部3Abから組立情報及び品質情報を収集するイベント収集部2aと、データを保存するデータベース2jと、イベント収集部2aから取り出した組立情報をデータベース2jに記録する組立情報記録部2eと、イベント収集部2aから取り出した品質情報の統計処理を行った結果の統計計算情報をデータベース2jに記録する品質情報記録部2fと、データベース2jに記録された組立情報及び品質情報を、検索及び表示する表示部2kとを備える。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

製品及び前記製品に組付けられた部品の組立情報を収集する組立情報収集部と、 前記製品及び製品に組付けられた部品の品質測定を行い品質情報を得る品質情報収集部と、 前記組立情報収集部及び品質情報収集部から前記組立情報及び品質情報を収集する収集部と、 データを保存するデータベースと、 前記収集部から取り出した前記組立情報を前記データベースに記録する組立情報記録部と、 前記収集部から取り出した前記品質情報の統計処理を行った結果の統計計算情報を前記データベースに記録する品質情報記録部と、 前記データベースに記録された前記組立情報及び前記品質情報を、検索及び表示する表示部とを備えることを特徴とする 製造履歴監視システム。

IPC (1件)：

G05B 19/418

FI (1件)：

G05B19/418 Z

Fターム (8件)：

3C100AA57 ,  3C100BB27 ,  3C100CC02 ,  3C100CC08 ,  3C100CC11 ,  3C100DD05 ,  3C100DD22 ,  3C100DD32

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 製品の品質管理方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-206760   出願人：ソニー株式会社