特許
J-GLOBAL ID:200903033704950420

日射解析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森 哲也 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-246426
公開番号(公開出願番号):特開2001-075946
出願日: 1999年08月31日
公開日(公表日): 2001年03月23日
要約:
【要約】【課題】日射解析の演算負荷を軽減したい。【解決手段】ステップ105を実行することにより、建物外周の日射解析の結果を、窓の位置において一旦保存し、その保存されたデータを用いて、ステップ107以降で室内の日射解析を行うようにした。これにより、室内の条件を変更して新たな日射解析を行う場合にも、ステップ110からステップ107に戻り、窓の位置において保存されている建物外周の日射解析の結果を用いて新たな解析を行うようにした。
請求項(抜粋):
建物の窓を通じての室内への日射を解析する方法であって、前記建物外周の日射解析を行って前記窓の位置における日射エネルギの大きさ及び方向を求め、その求められた日射エネルギの大きさ及び方向を一旦保存し、そして、その保存された日射エネルギの大きさ及び方向を境界条件とするとともに前記室内の条件に従って、前記室内への日射を解析することを特徴とする日射解析方法。
IPC (3件):
G06F 17/10 ,  E04B 1/00 ,  G06F 17/50
FI (3件):
G06F 15/31 Z ,  E04B 1/00 ,  G06F 15/60 612 G
Fターム (6件):
5B046AA03 ,  5B046JA07 ,  5B056AA06 ,  5B056BB01 ,  5B056BB77 ,  5B056FF05
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 解析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-213551   出願人:株式会社日立製作所
引用文献:
審査官引用 (1件)
  • 正確さに磨きかかる照明・採光シミュレーション

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