特許
J-GLOBAL ID:200903033725841290

R-TM-B系硬磁性薄膜およびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大場 充
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-099957
公開番号(公開出願番号):特開平9-219313
出願日: 1996年04月22日
公開日(公表日): 1997年08月19日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、スパッタリング法によって比較的低温(773K(500°C)以下)の基板温度で成膜を行った後、熱処理を施してR2TM14Bを結晶化させる方法において、R2TM14Bの磁化容易軸の方向が等方的であるにもかかわらず角型性に優れ、かつ高保磁力を有するR-TM-B系硬磁性薄膜およびR-TM-B系硬磁性薄膜を安定して効率よく製造するための方法を提供する。【解決手段】 本発明は、10〜20at%のR(RはNdまたはPrの少なくとも1種、あるいはその一部をDyで置換したもの)、5〜20at%のB、残部TM(TMはFeまたはFeの一部をCoで置換したもの)からなるR-TM-B系硬磁性薄膜において、R2TM14Bの磁化容易軸の方向が等方的であるR-TM-B系硬磁性薄膜である。
請求項(抜粋):
10〜20at%のR(RはNdまたはPrの少なくとも1種、或いは更にその一部をDyで置換したもの)、5〜20at%のB、残部TM(TMはFeまたはFeの一部をCoで置換したもの)及び不可避的な不純物からなるR-TM-B系硬磁性薄膜において、R2TM14Bの磁化容易軸の方向が等方的であることを特徴とするR-TM-B系硬磁性薄膜。
IPC (4件):
H01F 10/14 ,  C23C 14/14 ,  C23C 14/34 ,  H01F 41/18
FI (4件):
H01F 10/14 ,  C23C 14/14 F ,  C23C 14/34 P ,  H01F 41/18
引用特許:
審査官引用 (3件)

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