3次元画像入力装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松浦孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-211161
公開番号（公開出願番号）：特開2002-022425
出願日： 2000年07月12日
公開日（公表日）： 2002年01月23日
要約：

【要約】【課題】 3次元画像の検出においてピッチを常に適当な大きさに選定する。【解決手段】光伝播時間測定法(TOF法)に従ってプリ測距を行い、被計測物体Sまでの距離デ-タを概略的に計測する(ステップ101)。距離デ-タに基づいて、被計測物体Sが近距離、中距離および遠距離のいずれに位置しているかを判定する(ステップ102)。近距離であるとき、走査ピッチを相対的に粗く定め(ステップ103)、間引き率すなわち解像度を相対的に粗く定める(ステップ104)。中距離であるとき、走査ピッチを相対的に中程度の大きさに定め(ステップ105)、解像度を相対的に中程度の大きさに定める(ステップ106)。遠距離であるとき、走査ピッチを最も細かく定め(ステップ106)、解像度を最も細かく定める(ステップ107)。このようにして設定された走査ピッチと解像度に従って、スリット光を被計測物体の表面上を走査させ、光切断法に従って、3次元画像デ-タを検出する(ステップ110、111)。

請求項（抜粋）：

時間的にパルス状に変化するレ-ザ光を被計測物体に照射する第1の光源と、前記第1の光源から照射されたレ-ザ光によって生じる前記被計測物体からの反射光に基づいて、光伝播時間測定法に従って、前記被計測物体の表面におけるレ-ザ光の照射位置までの距離に対応した距離デ-タを検出する第1の距離検出手段と、レ-ザ光をスリット光に成形するとともに、前記スリット光を、その長手方向に略垂直な方向に所定のピッチで移動させつつ前記被計測物体に照射する第2の光源と、前記ピッチを前記距離デ-タに応じて変化させるピッチ調整手段と、前記第2の光源から照射されたスリット光によって生じる前記被計測物体からの反射光に基づいて、光切断法に従って、前記被計測物体の表面におけるスリット光の照射位置の3次元座標を求める3次元座標取得手段とを備えることを特徴とする3次元画像入力装置。

IPC (6件)：

G01B 11/24 , G01B 11/00 , G01B 11/25 , G01S 17/10 , H04N 5/225 , H04N 13/02

FI (6件)：

G01B 11/00 H , G01S 17/10 , H04N 5/225 Z , H04N 13/02 , G01B 11/24 K , G01B 11/24 E

Fターム (52件)：

2F065AA06 , 2F065AA53 , 2F065EE00 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF09 , 2F065FF11 , 2F065GG04 , 2F065GG08 , 2F065HH05 , 2F065JJ03 , 2F065JJ18 , 2F065JJ26 , 2F065LL06 , 2F065LL13 , 2F065LL30 , 2F065LL42 , 2F065LL62 , 2F065MM16 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065SS02 , 2F065SS13 , 5C022AA13 , 5C022AB02 , 5C022AB12 , 5C022AB15 , 5C022AB23 , 5C022AB24 , 5C022AC03 , 5C022AC42 , 5C022AC54 , 5C022AC74 , 5C061AA20 , 5C061AB03 , 5C061AB06 , 5C061AB08 , 5J084AA05 , 5J084AD01 , 5J084AD05 , 5J084BA03 , 5J084BA36 , 5J084BB02 , 5J084BB21 , 5J084CA03 , 5J084CA31 , 5J084CA61 , 5J084CA65 , 5J084CA70

引用特許：

審査官引用 (3件)

距離計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-082030 出願人：日産自動車株式会社
3次元計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-142831 出願人：ミノルタ株式会社
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-106916 出願人：オリンパス光学工業株式会社

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