特許
J-GLOBAL ID：200903033879750874

不良原因特定システム、不良原因特定方法、および不良原因特定プログラム

発明者：
窪田 岳志

窪田 岳志 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 一色国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-011415
公開番号（公開出願番号）：特開2006-198705
出願日： 2005年01月19日
公開日（公表日）： 2006年08月03日
要約：
【課題】製品組立てに伴う効率的な品質管理を可能とする【解決手段】RFIDタグ10が付帯する部品20について各部品のRFIDタグ10の格納情報と製品30を構成する各部品の当該製品での配置位置の情報との関係を定めた位置情報テーブル125と、RFIDタグ10が付帯する部品20を用いた製品組立てに際し部品20のRFIDタグ10に対する読取り処理と位置検知とを行うタグリーダ40より各部品のRFIDタグ10の格納情報と当該RFIDタグ10の位置情報とを取得する位置情報等取得部110と、タグリーダ40より取得した各部品20のRFIDタグ10の格納情報および位置情報を位置情報テーブル125に照合し製品30における各部品の配置有無または製品30における各部品の配置位置の適正性を判定する配置判定部111と、判定の結果を出力インターフェイスに出力する出力処理部112とからシステム構成する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
製品組立てに伴う不良原因を特定するシステムであって、 RFIDタグが付帯する部品について、各部品のRFIDタグの格納情報と、製品を構成する各部品の当該製品での配置位置の情報との関係を定めた、位置情報テーブルと、 前記RFIDタグが付帯する部品を用いた製品組立てに際し、前記部品のRFIDタグに対する読取り処理と位置検知とを行うタグリーダより、各部品のRFIDタグの格納情報と当該RFIDタグの位置情報とを取得する、位置情報等取得部と、 前記タグリーダより取得した各部品のRFIDタグの格納情報および位置情報を、前記位置情報テーブルに照合し、製品における各部品の配置有無または製品における各部品の配置位置の適正性を判定する、配置判定部と、 前記判定の結果を出力インターフェイスに出力する、出力処理部と、 を備えることを特徴とする不良原因特定システム。
IPC (3件)：
B23P 19/00 ,  B65G 61/00 ,  G06K 17/00
FI (4件)：
B23P19/00 303B ,  B65G61/00 332 ,  G06K17/00 F ,  G06K17/00 L
Fターム (9件)：
3C030DA01 ,  3C030DA02 ,  3C030DA04 ,  3C030DA09 ,  3C030DA23 ,  5B058CA17 ,  5B058CA23 ,  5B058KA04 ,  5B058YA20
引用特許：
出願人引用 (3件)

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