特許

J-GLOBAL ID：200903033920492275

複合材料における残留ひずみおよび残留応力の測定方法

発明者： 岸本 哲 ,  シン・ユンミン ,  田中 義久 ,  新谷 紀雄
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-174064
公開番号（公開出願番号）：特開2005-010003
出願日： 2003年06月18日
公開日（公表日）： 2005年01月13日
要約：

【課題】微小領域での複合材料の残留ひずみおよび残留応力を正確に測定することのできる、複合材料における残留ひずみおよび残留応力の測定方法を提供する。【解決手段】強化材(3)と母材(5)とからなる複合材料(1)の表面の強化材の周囲に微小なグリッド(2)を描き、強化材を押し出してとりはずし電子線モアレ法により残留ひずみを測定し、その残留ひずみより残留応力を求める。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

強化材と母材とからなる複合材料の表面の強化材の周囲に微小なグリッドを描き、強化材を押し出した前後あるいは後のグリッドの変形量を電子線モアレ法により測定して残留ひずみを算出し、その残留ひずみより残留応力を求めることを特徴とする複合材料における残留ひずみおよび残留応力の測定方法。

IPC (3件)：

G01N23/225 ,  G01B15/06 ,  G01L1/00

FI (3件)：

G01N23/225 ,  G01B15/06 ,  G01L1/00 B

Fターム (24件)：

2F067AA65 ,  2F067BB04 ,  2F067EE04 ,  2F067HH06 ,  2F067JJ05 ,  2F067KK04 ,  2F067TT04 ,  2F067TT06 ,  2G001AA03 ,  2G001BA07 ,  2G001CA03 ,  2G001DA09 ,  2G001GA06 ,  2G001HA09 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001KA07 ,  2G001LA20 ,  2G001MA05 ,  2G001RA01 ,  2G001RA08 ,  2G001RA10 ,  2G001RA20 ,  2G001SA12