特許
J-GLOBAL ID:200903034009351768
任意波形発生器、及び試験装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
龍華 明裕
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-161212
公開番号(公開出願番号):特開2006-337140
出願日: 2005年06月01日
公開日(公表日): 2006年12月14日
要約:
【課題】任意波形のノイズを除去するためにローパスフィルタを用いた場合に、当該ローパスフィルタにおける任意波形の歪みを補償する。【解決手段】任意波形を生成する任意波形発生器であって、任意波形のパターンを示すパターンデータを生成する波形パターン生成部と、パターンデータに基づいて、任意波形を出力するデジタルアナログ変換部と、パターンデータを微分した値と、デジタルアナログ変換部が出力する任意波形が通過する経路の時定数とに基づいてパターンデータを補正し、デジタルアナログ変換部に入力する補正処理部とを備える任意波形発生器を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
任意波形を生成する任意波形発生器であって、
前記任意波形のパターンを示すパターンデータを生成する波形パターン生成部と、
前記パターンデータに基づいて、前記任意波形を出力するデジタルアナログ変換部と、
前記パターンデータを微分した値と、前記デジタルアナログ変換部が出力する任意波形が通過する経路の時定数とに基づいて前記パターンデータを補正し、前記デジタルアナログ変換部に入力する補正処理部と
を備える任意波形発生器。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (12件):
2G132AB01
, 2G132AC03
, 2G132AE14
, 2G132AG01
, 2G132AG02
, 2G132AG04
, 2G132AG08
, 2G132AL11
, 5J022AB01
, 5J022BA02
, 5J022BA05
, 5J022CA07
引用特許:
出願人引用 (4件)
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半導体試験装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-195547
出願人:株式会社アドバンテスト
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任意波形発生器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-254862
出願人:株式会社アドバンテスト
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伝送路損失補償を備えたドライバ
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-616432
出願人:テラダイン・インコーポレーテッド
-
ADコンバータ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-006557
出願人:川崎マイクロエレクトロニクス株式会社
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