特許
J-GLOBAL ID:200903034053043604
測光システム
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-298583
公開番号(公開出願番号):特開平11-136580
出願日: 1997年10月30日
公開日(公表日): 1999年05月21日
要約:
【要約】【課題】2次元の受光素子を用いた測光システムにおいて、温度、蓄積時間、縦方向積分段数によって変化する暗出力を、汎用の固体撮像素子と簡単な回路構成によって除去し、正確な輝度データを得る測光システムを提供する。【解決手段】受光部の一部に光学的暗部と有効画素部を有する2次元のCCD1と、前記有効画素部と光学的暗部からの出力信号の前後に出力される空転送部のレベルをクランプするクランプ回路3と、クランプ後のアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換手段4と、得られたディジタルデータから暗出力データを減算する減算器9を備えた測光システムにおいて、演算装置7にて前記暗出力データは光学的暗部のディジタルデータから算出されるように構成する。
請求項(抜粋):
受光部の一部に光の入射を遮断する光学的暗部と入射光の強さに応じた出力信号が得られる有効画素部を有する2次元の受光素子と、前記有効画素部と光学的暗部からの出力信号の前後に出力される空転送部のレベルをクランプするクランプ手段と、クランプ後のアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換手段と、得られたディジタルデータから有効画素部の暗出力のディジタルデータを減算する減算手段を備えた測光システムにおいて、前記有効画素部の暗出力のディジタルデータは前記光学的暗部のディジタルデータから演算算出されることを特徴とする測光システム。
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-114546
出願人:キヤノン株式会社
-
固体撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-194316
出願人:ソニー株式会社, 株式会社ニコン
前のページに戻る