特許
J-GLOBAL ID:200903034112358185
カーボンナノチューブ冷陰極を用いた電子ビーム装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (7件):
社本 一夫
, 千葉 昭男
, 伊藤 茂
, 星野 修
, 神田 藤博
, 内田 博
, 宮前 徹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-202504
公開番号(公開出願番号):特開2004-047254
出願日: 2002年07月11日
公開日(公表日): 2004年02月12日
要約:
【課題】試料に対し均一な電子を長時間安定に照射することができるチャージアップ中和用電子源を提供する。【解決手段】一次電子ビームと該ビームを試料表面に照射して、該試料の観察および又は評価を行う(SEM型または写像投影型の)電子ビーム装置であって、該試料の観察および又は評価の前工程、または、同一工程にて、該一次電子ビームとは別の電子源により、試料に電子を照射して、該試料のチャージアップを中和する装置を含む電子ビーム装置であって、当該別電子源にカーボンナノチューブ(CNT)冷陰極を使用する事を特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
一次電子ビームと該ビームを試料表面に照射して、該試料の観察および又は評価を行う(SEM型または写像投影型の)電子ビーム装置であって、該試料の観察および又は評価の前工程、または、同一工程にて、該一次電子ビームとは別の電子源により、試料に電子を照射して、該試料のチャージアップを中和する装置を含む電子ビーム装置であって、当該別電子源にカーボンナノチューブ(CNT)冷陰極を使用する事を特徴とする電子ビーム装置。
IPC (5件):
H01J37/20
, H01J9/02
, H01J37/28
, H01J37/29
, H01L21/66
FI (5件):
H01J37/20 H
, H01J9/02 B
, H01J37/28 B
, H01J37/29
, H01L21/66 J
Fターム (17件):
4M106AA01
, 4M106BA02
, 4M106CA38
, 4M106DB05
, 4M106DB18
, 4M106DB30
, 5C001CC04
, 5C001CC08
, 5C033UU03
, 5C033UU10
, 5C127AA04
, 5C127BA01
, 5C127BA15
, 5C127CC03
, 5C127DD09
, 5C127DD93
, 5C127EE02
引用特許:
審査官引用 (3件)
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荷電粒子ビーム装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-064411
出願人:日本電子株式会社
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特開昭54-100658
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カーボン・ナノチューブ作成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-379334
出願人:株式会社東北テクノアーチ
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