特許
J-GLOBAL ID:200903034116350537

高電子移動度トランジスタ

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-343405
公開番号(公開出願番号):特開平10-189944
出願日: 1996年12月24日
公開日(公表日): 1998年07月21日
要約:
【要約】【課題】 電子走行層の電子移動度が高いGaN系の高電子移動度トランジスタを提供する。【解決手段】 電子走行層がGaN系化合物半導体層からなり、電子供給層が電子走行層よりバンドギャップエネルギーの大きいGaN系化合物半導体層からなる高電子移動度トランジスタであって、前記電子走行層はIn、AsまたはPを1×1019cm-3以上、5×1020cm-3以下含む。
請求項(抜粋):
電子走行層がGaN系化合物半導体層からなり、電子供給層が前記電子走行層よりバンドギャップエネルギーの大きいGaN系化合物半導体層からなる高電子移動度トランジスタであって、前記電子走行層はIn、AsまたはPを1×1019cm-3以上、5×1020cm-3以下含むことを特徴する高電子移動度トランジスタ。
IPC (3件):
H01L 29/778 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/812
引用特許:
審査官引用 (1件)

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