特許

J-GLOBAL ID：200903034172454523

熱容量スペクトロスコピーと誘電率の同時測定装置と測定方法

発明者： 阿竹徹 ,  川路均 ,  加藤良三
出願人/特許権者： 東京工業大学長
代理人 (1件)： 山口 朔生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-132816
公開番号（公開出願番号）：特開2003-329624
出願日： 2002年05月08日
公開日（公表日）： 2003年11月19日
要約：

【要約】【課題】熱容量スペクトロスコピーと誘電率を同時に測定できるようにすること。【解決手段】基盤21上に薄く積層される電気抵抗を有するヒーター22と、ヒーター22上に積層される試料5と、試料内に配置される一対の誘電率測定用電極3とを容器1内に配置し、ヒーター22にωの角振動数の電流を流してヒーターにジュール熱を発生させ、ヒーターの両端に発生する3ωの角振動数の電圧を求め、ωの角振動数の熱容量と熱伝導率の積を求めると共に、一対の誘電率測定用電極で試料の誘電率を求める、熱容量スペクトロスコピーと誘電率の同時測定装置及び測定方法。

請求項（抜粋）：

基盤上に薄く積層される電気抵抗を有するヒーターと、ヒーター上に積層される試料と、試料内に配置される一対の誘電率測定用電極とを同一容器内に備え、ヒーターにωの角振動数の電流を流してヒーターにジュール熱を発生させ、ヒーターの両端に発生する3ωの角振動数の電圧を求め、ωの角振動数の熱容量と熱伝導率の積を求めると共に、一対の誘電率測定用電極で試料の誘電率を求めることを特徴とする、熱容量スペクトロスコピーと誘電率の同時測定装置。

IPC (2件)：

G01N 25/18 ,  G01N 27/22

FI (2件)：

G01N 25/18 J ,  G01N 27/22 C

Fターム (34件)：

2G040AB05 ,  2G040AB08 ,  2G040AB09 ,  2G040BA24 ,  2G040CA02 ,  2G040CB03 ,  2G040DA02 ,  2G040DA12 ,  2G040DA22 ,  2G040EA02 ,  2G040EA11 ,  2G040EB02 ,  2G040EC04 ,  2G040FA01 ,  2G040FA10 ,  2G040ZA01 ,  2G060AA06 ,  2G060AC10 ,  2G060AD05 ,  2G060AE24 ,  2G060AF03 ,  2G060AF06 ,  2G060AF11 ,  2G060AG07 ,  2G060FA01 ,  2G060HA02 ,  2G060HB06 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HC21 ,  2G060HD01 ,  2G060HD03 ,  2G060HE03 ,  2G060KA05

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 熱伝導率測定装置及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-149323   出願人：ティーエイ・インストゥルメンツ・インコーポレーテッド
• 熱容量測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-013771   出願人：名古屋大学長
• 特開平4-297861