特許
J-GLOBAL ID:200903034188191310

非線形超音波による介在物検出方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  廣瀬 繁樹 ,  西山 雅也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-106149
公開番号(公開出願番号):特開2006-284428
出願日: 2005年04月01日
公開日(公表日): 2006年10月19日
要約:
【課題】 より正確に介在物の存在有無を判定できるようにした超音波探傷方法および装置を提供すること。【解決手段】 検査対象物16の一側面を臨むように超音波送信子18aと超音波受信子18bとを配置し、検査対象物16へ向けて超音波パルス波を照射しその反射波を処理して検査対象物16の内部欠陥からの反射波が含まれていないか否かを判定し、内部欠陥からの反射波が含まれている場合に、超音波送信子16bから超音波バースト波を照射しその反射波を処理して、反射波振幅の超音波バースト入射波振幅に対する二次高調波の振幅の比を得るようにし、前記入力電圧と前記入射波振幅に対する二次高調波の振幅の比との間に線形関係がある場合に介在物が存在すると判定する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
(a)検査対象物の一面を臨むように超音波送信子と超音波受信子と配置する段階と、 (b)前記超音波送信子から超音波バースト波を前記検査対象物に送信する段階と、 (c)前記検査対象物から反射した超音波バースト波を前記超音波受信子により受信する段階と、 (d)前記超音波受信子から送出される信号を処理して、入射波振幅に対する前記反射した超音波バースト波の二次高調波の振幅の比を得る段階と、 (e)前記超音波送信子へ印加する入力電圧を変化させる段階と、 (f)前記段階(b)〜(e)を繰り返して前記入力電圧の変化と前記入射波振幅に対する二次高調波の振幅の比の変化とを関連づける段階を具備した検査対象物に含まれる介在物を検出する超音波探傷方法。
IPC (1件):
G01N 29/04
FI (1件):
G01N29/10 501
Fターム (9件):
2G047AA07 ,  2G047BA03 ,  2G047BB06 ,  2G047BC03 ,  2G047BC07 ,  2G047BC12 ,  2G047GF08 ,  2G047GF10 ,  2G047GG27
引用特許:
出願人引用 (8件)
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