特許
J-GLOBAL ID:200903034243486863
液晶パネル検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
鈴木 利之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-161175
公開番号(公開出願番号):特開2006-337642
出願日: 2005年06月01日
公開日(公表日): 2006年12月14日
要約:
【課題】液晶パネル検査装置のバックライト装置として複数の発光ダイオードを用いて,それらの発光ダイオードの交換を容易にし,かつ,照明効率を向上させる。【解決手段】バックライト装置の複数の発光ダイオード基板84は個別に着脱可能である。各発光ダイオード基板84は複数の発光ダイオード86を含んでいる。それらの発光ダイオード86の発光面112は,すべて,同一の照明方向114を向いている。任意の発光ダイオード基板84に含まれる発光ダイオード86と,その隣の発光ダイオード基板84に含まれる発光ダイオード86との間には,反射板90が配置されている。発光ダイオード86から射出された光のうち,反射板90で反射した光116bは,その進行方向が照明方向114に近くなり,照明効率が向上する。【選択図】図11
請求項(抜粋):
液晶パネルをバックライト装置で背面側から照明して液晶パネルを検査する液晶パネル検査装置において,
前記バックライト装置は,個別に着脱可能な複数の発光ダイオード基板を備えていて,前記複数の発光ダイオード基板は,それぞれ,複数の発光ダイオードを含んでおり,
前記バックライト装置に含まれるすべての発光ダイオードは,その発光面の法線が同一の照明方向を向いていて,
任意の前記発光ダイオード基板に含まれる前記発光ダイオードと,前記任意の発光ダイオード基板の隣に位置する別の発光ダイオード基板に含まれる前記発光ダイオードとの間に,反射部材が配置されていて,
前記反射部材は,前記発光ダイオードの前記発光面から射出された光のうち,前記照明方向に対して第1の角度で射出されて前記反射部材に到達する光を,前記照明方向に対して前記第1の角度よりも小さい第2の角度になるように反射させることを特徴とする液晶パネル検査装置。
IPC (4件):
G02F 1/13
, G01M 11/00
, F21S 2/00
, G02F 1/133
FI (4件):
G02F1/13 101
, G01M11/00 T
, F21S1/00 E
, G02F1/13357
Fターム (8件):
2G086EE10
, 2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088FA30
, 2H088MA20
, 2H091FA45Z
, 2H091FC30
, 2H091LA09
引用特許:
出願人引用 (1件)
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検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-138791
出願人:東京エレクトロン株式会社
審査官引用 (7件)
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検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-138791
出願人:東京エレクトロン株式会社
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発光パネル装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-281100
出願人:シーシーエス株式会社
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光源および光源装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-230451
出願人:シャープ株式会社
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照明装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-277052
出願人:松下電器産業株式会社
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表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-061540
出願人:ソニー株式会社
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表示装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-332675
出願人:三洋電機株式会社, 鳥取三洋電機株式会社
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発光ダイオードデバイス用の基板
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-090400
出願人:田中貴金属工業株式会社
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