特許
J-GLOBAL ID：200903034446251675
測定プログラムの作成支援方法および作成支援プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-078567
公開番号（公開出願番号）：特開2004-286571
出願日： 2003年03月20日
公開日（公表日）： 2004年10月14日
要約：
【課題】被測定物の3次元測定に必要な要素を適切に盛り込んだ信頼性の高い測定プログラムを容易かつ迅速に作成することができる測定プログラムの作成支援方法および作成支援プログラムを提供する。【解決手段】被測定物の3次元形状データから2次元図面データを作成し、その2次元図面データに対し設定される寸法引出線、寸法値、および公差に基づいて、上記被測定物を3次元測定するための測定プログラムの作成に必要な測定用属性データを設定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定物の3次元形状データから2次元図面データを作成するステップと、
前記2次元図面データに対し設定される寸法引出線、寸法値、および公差に基づいて、前記被測定物を3次元測定するための測定プログラムの作成に必要な測定用属性データを設定するステップと、
を備えたことを特徴とする測定プログラムの作成支援方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2F069AA04
, 2F069AA31
, 2F069AA66
, 2F069AA77
, 2F069DD15
, 2F069DD25
, 2F069NN00
, 2F069NN09
, 2F069QQ05
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (2件)
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