特許
J-GLOBAL ID:200903034582662905

眼科測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-029893
公開番号(公開出願番号):特開2006-212299
出願日: 2005年02月04日
公開日(公表日): 2006年08月17日
要約:
【課題】 Skew Ray成分を考慮し、精度の高い波面収差の眼特性の測定ができ、より測定分解能の高い眼科測定装置を提供すること。【解決手段】 被検眼眼底に所定の角度関係の2方向にスリット光束を走査して投影するスリット投影光学系と、光軸を通る第1経線方向で角膜と略共役に配置された複数の受光素子を持つ受光光学系と、光軸中心を検知する光軸検知手段と、スリット光束と各受光素子とをそれぞれ光軸回りに同期して回転する回転手段と、スリット光束の2方向の走査により、受光素子と光軸検知手段による検知結果との位相差信号に基づいて回転角度ごとに受光素子に対応する各角膜部位における2方向の屈折力を求める測定制御手段と、各角膜部位における2方向の屈折力をベクトル合成して波面の傾きを求め、波面の傾きに基づいて被検眼の波面収差を演算する波面収差演算手段と、を備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被検眼眼底に所定の角度関係の2方向にスリット光束を走査して投影するスリット投影光学系と、光軸を通る少なくとも1つの第1経線方向で、且つ被検眼角膜と略共役な位置に配置された複数の測定用受光素子を持つ受光光学系と、光軸中心を検知する光軸検知手段と、前記スリット投影光学系により投影するスリット光束と前記受光光学系が備える各受光素子とをそれぞれ光軸回りに同期して回転する回転手段と、前記スリット光束の2方向の走査により、前記測定用受光素子と前記光軸検知手段による検知結果との位相差信号に基づいて回転角度ごとに前記測定用受光素子に対応する各角膜部位における2方向の屈折力を求める測定制御手段と、各角膜部位における前記2方向の屈折力をベクトル合成して波面の傾きを求め、該波面の傾きに基づいて被検眼の波面収差を演算する波面収差演算手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。
IPC (1件):
A61B 3/10
FI (1件):
A61B3/10 M
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 眼科測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-283281   出願人:株式会社ニデック
  • 波面分析を用いた光学系の客観測定と補正
    公報種別:公表公報   出願番号:特願2000-522427   出願人:オートナマス・テクノロジーズ・コーポレーション
  • 眼科装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-094739   出願人:株式会社ニデック
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