特許
J-GLOBAL ID：200903034592644964
組織分析評価装置、および組織分析評価方法、並びにコンピュータ・プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
澤田 俊夫
, 宮田 正昭
, 山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-200115
公開番号（公開出願番号）：特開2006-023881
出願日： 2004年07月07日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】 組織に対するアンケートなどの調査結果に基づく影響の質を含む組織評価を実行する装置および方法を提供する。【解決手段】 各組織に対するアンケートなどの調査結果に基づいて、例えばある組織が他の組織に与える影響の質を評価する。ある組織が他の組織に与える影響の質を、アンケートの応答結果として取得される影響媒体に対する期待度または想定度と、影響の種類に対する期待度または想定度の高低に基づいて評価する。グラフ上の4象限にそれぞれ影響の質に対応するラベルを設定し、設定ラベルに基づいて影響の質を評価したり、さらにパフォーマンスとの相関を求めるなど、有益な影響の質を含む組織評価処理を実現する。【選択図】 図22
請求項（抜粋）：
評価対象となる単位または単位構成員に対するアンケートの応答結果を分析し、評価対象単位が他の単位に与える影響を評価するアンケート分析評価部を有し、
前記アンケート分析評価部は、
前記アンケートの応答結果を分析し、評価対象単位が他の単位に与える影響の質についての分析を実行する構成であることを特徴とする組織分析評価装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F17/60 174
, G06F17/60 150
