特許
J-GLOBAL ID：200903034601196503
シール検査システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
山口 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-168083
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334478
出願日： 1995年06月09日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：
【要約】【目的】 シール材の塗布状態を画像状態により検査すること。【構成】 シール材が塗布されたワーク接合面を撮象する手段と、この撮象手段からのデータを画像データとして記憶する画像メモリと、当該画像データに対して濃淡画像処理を行う処理装置とを備えたシール検査システム。この処理装置は、シール塗布位置に対応した検査幅部分の画像位置を検査する検査部分特定機能と、画像データ中の検査幅の両端位置から検査ポイントまでの画素のうち濃度変化値が設定値以上となった画素の位置をシール剤の幅方向の両端(エッヂ)と判定する機能とを備えている。さらに、処理装置は、このシール剤の両端が検出されない時、当該検査ポイントについてシール切れ目と判定する切れ目エラー判定機能を備えた。
請求項（抜粋）：
シール材が塗布されたワーク接合面を撮像する手段と、この撮像手段で取り込まれたデータを画像データとして記憶する画像メモリと、この画像メモリに接続されるとともに前記画像データに対して濃淡画像処理を行う処理装置とを備えたシール検査システムにおいて、前記処理装置は、前記画像データ上に予め定められた検査ポイントを中心とした検査幅部分の画素位置を検索する検査部分特定機能と、前記画像データ中の前記検査幅の両端位置から前記検査ポイントまでの画素のうち濃度変化値が設定値以上となった画素の位置を前記シール材の幅方向両端位置と判定する両サイド検出機能と、この両サイド検出機能によって前記幅方向両端が検出されない場合に当該検査ポイントについてシール切れ目と判定する切れ目エラー判定機能とを備えたことを特徴とするシール検査システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/89 Z
, G06F 15/62 400
