特許
J-GLOBAL ID：200903034683811758
三次元形状測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-082587
公開番号（公開出願番号）：特開平11-257930
出願日： 1998年03月13日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：
【要約】【課題】 反射表面を持つ測定対象物に対して安価な構成で高精度に三次元形状を測定することができる。また、大面積のものも一度にとらえてスピーディーな測定が可能になる。【解決手段】 一方向に正弦波状の濃淡輝度を持つ縞パターンが平行に形成された縞パターン板を備え、反射表面を備える測定対象物の表面形状を測定する三次元形状測定装置において、表面形状に応じた情報を含んで測定対象物の表面で反射された縞パターンを撮像し、得られた画像情報に基づいて測定対象物の表面形状を求める。
請求項（抜粋）：
反射表面を備える測定対象物の表面形状を測定する三次元形状測定装置において、一方向に正弦波状の濃淡輝度を持つ縞パターンが平行に形成された縞パターン板と、前記測定対象物の表面形状に応じた情報を含んで反射される前記縞パターンを撮像する撮像手段と、該撮像手段による画像情報に基づいて前記測定対象物の表面形状を求める形状解析手段と、を備えることを特徴とする三次元形状測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/24
, G01B 11/30 101
G01B 11/24 E
, G01B 11/30 101 A
