特許

J-GLOBAL ID：200903034898359007

画像形成装置

発明者： 五味 史光 ,  小宮 義行 ,  橋本 浩一 ,  門田 修一 ,  渋谷 健一
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 世良 和信 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-196114
公開番号（公開出願番号）：特開2002-014569
出願日： 2000年06月29日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：

【要約】【課題】 帯電不良によるかぶりや汚染、残留現像剤のかきとり不良によるゴーストが共に発生しない状態を維持してより装置の長寿命化を図る画像形成装置を提供する。【解決手段】 温湿度検知手段を設けておき、その検知結果の出力から換算される絶対水分量に応じて、絶対水分量0(g/kg dry air)から20(g/kg dry air)以上までに分割された7つの環境それぞれに対して帯電補助ブラシ12のバイアスを変更したため、長期間、かぶり及びゴーストが発生しないレベルで画像が維持された。

請求項（抜粋）：

像担持体と、該像担持体に接触して前記像担持体にバイアスを印加して帯電させる帯電手段と、該帯電手段で一様に帯電された前記像担持体上に露光によって潜像を形成する露光手段と、該露光手段で形成された前記像担持体上の潜像を現像剤で現像する現像手段と、該現像手段で現像された前記像担持体上の現像剤像を被転写材に転写する転写手段と、該転写手段で転写後の前記像担持体に前記帯電手段とは逆極性のバイアスを印加する帯電補助手段と、を備え、前記現像手段が前記像担持体上の転写後の残留現像剤を回収する画像形成装置において、装置の温湿度を検知する温湿度検知手段と、該温湿度検知手段の検知結果に応じて、前記帯電補助手段のバイアスを変更するバイアス変更手段と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。

IPC (3件)：

G03G 21/00 ,  G03G 15/02 101 ,  G03G 15/08 507

FI (3件)：

G03G 21/00 ,  G03G 15/02 101 ,  G03G 15/08 507 B

Fターム (16件)：

2H003AA12 ,  2H003BB11 ,  2H003BB13 ,  2H003CC04 ,  2H003CC05 ,  2H003DD03 ,  2H003DD11 ,  2H034AA06 ,  2H034FA00 ,  2H077AA37 ,  2H077AC16 ,  2H077AD06 ,  2H077AD31 ,  2H077AE10 ,  2H077DA18 ,  2H077DB12

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-253054   出願人：キヤノン株式会社
• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-254385   出願人：キヤノン株式会社
• 特開平3-287188
  
• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-041701   出願人：ミノルタ株式会社