特許
J-GLOBAL ID:200903035037402900
表面検査システムにおける画像処理装置、表面検査方法、及びコンピュータプログラム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
國分 孝悦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-346057
公開番号(公開出願番号):特開2005-114421
出願日: 2003年10月03日
公開日(公表日): 2005年04月28日
要約:
【課題】 1回の撮影及び画像処理で広い範囲で検査することができ、かつ、高精度な検査を可能とする。【解決手段】 複数本の線Lを所定間隔で平行に並べてなる格子パターンを鋼板200の表面で鏡面反射させて、その鋼板200の表面に写し出される格子パターン像をカメラ500により撮像する。画像処理装置100は、カメラ500から入力される画像データから、格子パターン像の線L ́に沿う方向の各位置jにおける線L ́に直交する方向に沿った濃度分布を表わす濃度分布データを生成する濃度分布データ生成部101と、互いに直交する2つの基準正弦波データを発生させる基準正弦波発生部102と、互いに直交する2つの基準正弦波データを濃度分布データにそれぞれ乗算する乗算手段103a、103bとを備え、乗算手段103a、103bにより得られた結果に基づいて、鋼板200の表面検査を行う。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
複数本の線を所定間隔で平行に並べてなる格子パターンを検査対象物の表面で鏡面反射させて、その検査対象物の表面に写し出される格子パターン像を撮像装置により撮像する表面検査システムにおける画像処理装置であって、
上記撮像装置から入力される画像データから、上記格子パターン像の線に沿う方向の各位置における線に直交する方向に沿った濃度分布を表わす濃度分布データを生成する濃度分布データ生成手段と、
互いに直交する2つの基準正弦波データを発生させる基準正弦波発生手段と、
上記互いに直交する2つの基準正弦波データを上記濃度分布データにそれぞれ乗算する乗算手段とを備え、
上記乗算手段により得られた結果に基づいて、上記検査対象物の表面検査を行うことを特徴とする画像処理装置。
IPC (4件):
G01B11/30
, B21C51/00
, G01N21/892
, G06T1/00
FI (4件):
G01B11/30 A
, B21C51/00 P
, G01N21/892 B
, G06T1/00 420F
Fターム (36件):
2F065AA49
, 2F065BB13
, 2F065BB15
, 2F065CC06
, 2F065DD06
, 2F065DD13
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF42
, 2F065HH06
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ23
, 2F065QQ31
, 2F065QQ33
, 2F065QQ44
, 2F065UU05
, 2G051AA37
, 2G051AB07
, 2G051AB12
, 2G051AB20
, 2G051AC21
, 2G051BB20
, 2G051CA04
, 2G051EA08
, 2G051EA30
, 2G051EC02
, 2G051EC05
, 5B047AA11
, 5B047AB02
, 5B047BA01
, 5B047BB06
, 5B047CB22
, 5B047DC04
, 5B047DC09
引用特許:
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