特許
J-GLOBAL ID:200903035121805263
X線小角散乱装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
横川 邦明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-228542
公開番号(公開出願番号):特開平9-054050
出願日: 1995年08月14日
公開日(公表日): 1997年02月25日
要約:
【要約】【課題】 ダイレクトビームを直接に測定でき、しかも非常に弱い散乱X線から非常に強い散乱X線まで広い強度範囲の散乱X線を検出することができるX線小角散乱装置を提供する。【解決手段】 入射X線Rの光軸を中心とする小角度領域における散乱X線の強度の変化を測定するX線小角散乱装置である。この装置は、X線Rの進行方向に関して試料Sの後方位置に配置されていてX線を線状又は面状に検知するX線検出器1と、試料SとX線検出器1との間であってそのX線検出器1の直前位置のダイレクトビームの進行路上に配置されたX線吸収板2aとを有する。X線吸収板2aはビームストッパと異なってダイレクトビーム及び高強度の散乱X線を強度を減衰させた状態でX線検出器1へ導く。
請求項(抜粋):
入射X線の光軸を中心とする小角度領域における散乱X線の強度の変化を測定するX線小角散乱装置において、X線の進行方向に関して試料の後方位置に配置されていてX線を線状又は面状に検知するX線検出器と、試料とX線検出器との間であってそのX線検出器の直前位置のダイレクトビームの進行路上に配置されたX線吸収板とを有することを特徴とするX線小角散乱装置。
引用特許:
審査官引用 (1件)
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小角領域X線装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-300465
出願人:理学電機株式会社
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