2次元位置姿勢測定用マーク、2次元位置姿勢測定方法及び装置、画像記録装置用制御装置、及びマニピュレータ用制御装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平田忠雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-075717
公開番号（公開出願番号）：特開平9-170908
出願日： 1996年03月29日
公開日（公表日）： 1997年06月30日
要約：

【要約】【課題】構成の簡素化、コストダウン、及び取り扱い性の改善を図り、測定精度の低下を防ぐこと。【解決手段】測定対象物1の対象表面2に、第1及び第2の直線L1 、L2 、及び第2及び第3の直線L2 、L3 との間で2つの交点P1 、P2 を提供し、第1及び第2の直線L1 、L2 となす角度αと第2及び第3の直線L2 、L3 となす角度β、及びP1 、P2 の距離gが既知なマーク3を設け、このマーク3を少なくとも1つの1次元光センサ6上に結像させる。1次元光センサ6から長さ方向に光の強度分布を有したセンサ信号が出力されると、演算ユニット9はセンサ信号に基づいて1次元光センサ6上のマーク像3’の直線L1 〜L3 の位置を演算する。この演算結果から2つの交点P1 、P2 の少なくとも1つの位置と、直線L1 〜L3 の少なくとも1つの直線の傾きを演算する。例えば、この演算結果を測定対象物1の位置測定の基準点及び姿勢測定の基準線とする。

請求項（抜粋）：

所定の平面の領域内に形成され、第1及び第2の線分、及び前記第2の線分及び第3の線分との間で2つの交点を提供し、前記第1及び第2の線分がなす角度、前記第2及び第3の線分がなす角度、及び前記2つの交点の距離が既知であり、前記2つの交点の1つは位置測定の基準点であり、前記第1、第2、及び第3の線分の1つは姿勢測定の基準線であることを特徴とする2次元位置姿勢測定用マーク。

IPC (4件)：

G01B 11/00 , B25J 13/08 , G01B 11/26 , G06T 7/00

FI (4件)：

G01B 11/00 H , B25J 13/08 A , G01B 11/26 H , G06F 15/62 400

引用特許：

審査官引用 (1件)

位置決め装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-221616 出願人：富士通株式会社

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