特許
J-GLOBAL ID：200903035385699801
スキャンパス用フリップフロップ回路及びスキャンパステストシステム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-255655
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094913
出願日： 1997年09月19日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：
【要約】【課題】 この発明は、ゲイテッドクロック方式を採用した回路の自動化ツールによるテスト容易化設計を可能とし、テスト容易化設計の容易化ならびに設計時間の短縮を達成することを課題とする。【解決手段】 この発明は、通常動作時にはゲイテッドクロック方式に対応してクロック信号の立ち下がりエッジに同期して動作し、テスト動作にはスキャンパス用のフリップフロップ回路と同様にクロック信号の立ち上がりエッジに同期して動作するように構成される。
請求項（抜粋）：
通常動作モード時は、ゲイテッドクロック信号を受けて動作するフリップフロップ回路がデータを取り込むゲイテッドクロック信号の電位変化方向(一方の電位変化方向)と逆の電位変化方向(他方の電位変化方向)のクロック信号に同期して入力データを取り込み、クロック信号の他方の電位変化方向に同期して取り込んだデータをデータ出力端子から出力しかつ反転データを反転データ出力端子から出力し、テストシステムモード時に、クロック信号の一方の電位変化方向に同期して入力データを取り込み、取り込んだ入力データをスキャンデータ出力端子から出力し、テストスキャンモード時は、クロック信号の一方の電位変化方向に同期して入力スキャンデータを取り込み、取り込んだ入力スキャンデータをスキャンデータ出力端子からスキャンデータとして出力し、テストシステムモード時ならびにテストスキャンモード時には、前記データ出力端子から出力される出力データならびに前記反転データ出力端子から出力される反転出力データをそれぞれ所定の論理レベルに固定することを特徴とするスキャンパス用フリップフロップ回路。
IPC (4件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 360
, H03K 3/037
, H03K 19/00
G01R 31/28 G
, G06F 11/22 360 P
, H03K 3/037 Z
, H03K 19/00 B
